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低维纳米材料力电性能与显微结构测量装置和方法
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参赛者：刘攀 |
本发明解决了目前小尺度纳米材料的力学性能测试的问题。利用本发明能够实现将纳米材料固定在微米、纳米、甚至原子尺度的操纵平台上，对纳米材料进行超高精密的拉伸、弯曲等操作，来获取纳米材料的力学性能。同时，通过场发射透射电子显微镜观察纳米材料中的原子显微结构，来获取纳米材料的结构变化。结合纳米材料的力学性能以及对应的显微结构演变，从而指导电子元器件的设计和改良。
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